Μονάδα Φασματομετρίας ED-XRF

Εξοπλισμός

Η τυπική διάταξη Φασματομετρίας ED-XRF αποτελείται από μια πηγή πρωτογενούς ακτινοβολίας (ραδιοϊσότοπο ή λυχνία ακτίνων Χ) και ένα σύστημα ανίχνευσης της δευτερεύουσας ακτινοβολίας που εκπέμπεται από το δείγμα.

Στη Μονάδα του Πανεπιστημίου Ιωαννίνων λειτουργούν διατάξεις Φασματομετρίας ED-XRF με τα ακόλουθα χαρακτηριστικά:

Διεγείρουσα ακτινοβολία:

• δακτυλιοειδείς ραδιοϊσοτοπικές πηγές: ¹⁰⁹Cd και ²⁴¹Am

Ανιχνευτές:

• Ανιχνευτής Si(Li) (CANBERRA): πάχος κρυστάλλου 5 mm, ενεργός επιφάνεια 80 mm², παράθυρο βηρυλλίου πάχους 25 μm, διακριτική ικανότητα 171 eV στα 5.9 keV, ψύξη υγρού αζώτου

• Ανιχνευτής Si-PIN (Amptek X-123):  πάχος 300 μm, ενεργός επιφάνεια 6 mm², παράθυρο Βηρυλλίου πάχους 12.5 μm, διακριτική ικανότητα 145 eV στα 5.9 keV, θερμοηλεκτρική ψύξη

Λογισμικό:

• Εμπορικά προγράμματα για συλλογή και ανάλυση φασμάτων, κώδικες ανάλυσης θεμελιωδών παραμέτρων

Στοιχειακό εύρος:

• Από το χλώριο (Cl) έως το ουράνιο (U), με όρια ανίχνευσης που εξαρτώνται από το ανιχνευόμενο στοιχείο και τη μήτρα του δείγματος

Προετοιμασία δειγμάτων:

Για το χειρισμό και την προετοιμασία των δειγμάτων διατίθεται τυπικός εργαστηριακός εξοπλισμός - δοχεία και συσκευές άλεσης, εξοπλισμός κοκκομετρικού διαχωρισμού, ζυγός ακριβείας, φούρνος, υδραυλική πρέσσα, συσκευή λυοφιλίωσης - ενώ για τις ποσοτικές αναλύσεις διατίθεται ποικιλία από χημικά αντιδραστήρια  και πρότυπα υλικά αναφοράς.

| Αρχική | Η Μέθοδος | Εξοπλισμός | Υπηρεσίες | Έρευνα | Σύνδεσμοι |